به گزارش روز چهارشنبه ایرنا از سازمان پژوهشهای علمی و صنعتی ایران، دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) که به همت متخصصان داخلی تولید و با بهره‌گیری از حمایت معاونت علمی و فناوری ریاست جمهوری خریداری شده، امکان تصویربرداری نانومتری از انواع سطوح رسانا، نیمهرسانا، عایق، منسجم، پودری، آلی و غیرآلی را دارا است.
این دستگاه علاوه بر سه مد متداول تماسی، غیرتماسی و ضربهای که در مطالعه مورفولوژی هندسه سطح (تعیین زبری و اندازه) استفاده میشود، قادر به اندازهگیری نیروهای جانبی، اصطکاک و خواص مغناطیسی نیز است.
میکروسکوپ نیروی اتمی یکی از انواع میکروسکوپ‌های پروب روبشی (SPM) است که با جمع‌آوری اطلاعات نیروهای حاصل از برهمکنش پروب دستگاه و اتم‌های سطح، تصویر توپوگرافی آن را تولید می‌کند.
این روش در مقایسه با روش‌های مشابه مطالعه توپوگرافی مانند میکروسکوپ تونلی روبشی (STM)، استفاده از نیروها برای تصویرسازی امکان مطالعه انواع سطوح فلز، نیمهرسانا و عایق را فراهم می‌آورد.
علاوه بر توپوگرافی از مدهای کاری مختلف دستگاه AFM برای بررسی الاستیسیته، چسبندگی، اصطکاک، خواص الکتریکی و مغناطیسی نانومواد استفاده میشود.
این آزمایشگاه آماده ارائه خدمات به پژوهشگران، صنایع فعال در حوزههای گوناگون مهندسی سطح، میکروفناوری، نانوفناوری و دیگر متقاضیان داخل و خارج سازمان پژوهش های علمی و صنعتی ایران است.
علمی**1055**1440
دریافت کننده : زینب کارگر ** انتشار:گلشن
برای اطلاع از اخبار متنوع علمی و فناوری، با کانال علمی ایرنا در تلگرام همراه شوید:
irnaelm@
https://telegram.me
